A Microscopia de Força Atômica (AFM) oferece muitos benefícios no estudo de materiais poliméricos quando comparada a técnicas alternativas. A extremidade afiada da ponta e o controle preciso da força fornecido por AFM permitem que os pesquisadores analisem amostras heterogêneas com resolução até o nível de nanômetros, onde moléculas únicas podem ser observadas.

Muitas propriedades e comportamentos diferentes do material podem ser estudados medindo-se um sinal (por exemplo, força ou corrente) localizado pelo ápice da sonda enquanto altera as condições instrumentais.

O AFM trabalha em uma ampla faixa de temperaturas, tanto no ar quanto no líquido, permitindo que os pesquisadores selecionem o ambiente mais interessante para seus experimentos e façam comparações entre medições em diferentes condições. Nesta apresentação, revisaremos vários modos de Microscopia de Força Atômica que são frequentemente usados na pesquisa de polímeros.

Discutiremos métodos para medição da dinâmica do polímero, mapeamento de propriedades mecânicas de alta resolução, sondagem do comportamento viscoelástico dependente do tempo dos polímeros, medições nanoelétricas com cubos de dados e medições dependentes da temperatura.